電子ビームで照射されるサンプルを運ぶサンプル・キャリア

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：伊東忠彦 , 大貫進介 , 伊東忠重
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-176020
公開番号（公開出願番号）：特開2005-010158
出願日： 2004年06月14日
公開日（公表日）： 2005年01月13日
要約：

【課題】 TEMで用いられ、市場で自由に入手可能なサンプル・キャリアは、強化する端を備えたガーゼの形をしている。これら既知のサンプル・キャリアの厚さは、20μmのオーダであり、サンプル・ホルダ全体に亘って均一である。これらの壊れやすいサンプル・キャリアの非常に薄い厚さは、操作を難しくする。人間の介在無しでTEMを連続的に使用できるように、サンプル・キャリアのTEM内への出し入れを自動化することが望まれる。【解決手段】本発明は、手動操作でも自動操作でも、サンプル・キャリアの変形及び/又はサンプル・キャリアへの損傷が防止された、丈夫なサンプル・キャリアである。これは、サンプル・キャリアの強化端部2の厚さ6を中央部分1の厚さ5よりも厚くすることによって実現される。ここで、傾けることが重要な分析においてこのサンプル・キャリアを用いる能力は妨げられない。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

少なくとも部分的に電子を通す中央部分(1)と、該中央部分(1)の周囲に位置し、強化効果を備えた端部(2)とを有する、電子ビームで照射されるサンプルを運ぶサンプル・キャリアであって、前記中央部分(1)の周囲の少なくとも一部において、前記端部(2)の厚さ(6)が前記中央部分(1)の厚さ(5)よりも厚い、ことを特徴とするサンプル・キャリア。

IPC (2件)：

G01N1/00 , G01N1/28

FI (3件)：

G01N1/00 101A , G01N1/28 W , G01N1/28 F

Fターム (6件)：

2G052AD32 , 2G052CA04 , 2G052CA48 , 2G052DA21 , 2G052GA33 , 2G052JA15

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭55-049852
特開昭55-049852
特開昭57-049154

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