特許
J-GLOBAL ID:200903092250294562

皮膜厚さ測定モニター装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 高橋 祥泰 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-101171
公開番号(公開出願番号):特開2000-292106
出願日: 1999年04月08日
公開日(公表日): 2000年10月20日
要約:
【要約】【課題】 基材及び皮膜の種類に殆ど左右されず,被覆シートの皮膜厚さを正確かつ効率的に測定することができる皮膜厚さ測定モニター装置を提供すること。【解決手段】 基準ロール2と,被覆部測定器3と,余白部測定器4と,皮膜82の厚さを演算するための演算部5とを有する。被覆部測定器3と余白部測定器4とは,いずれも,ロール面20に対して垂直方向に進退可能に設けた軸部31と,軸部31の進退方向における変位を測定するための変位検出部と,軸部31の先端に回転可能に設けられた球状の接触端子33とを有している。被覆部測定器1は接触端子33を被覆部820に当接させてその厚さAを測定し,余白部測定器4は接触端子33を余白部820に当接させてその厚さBを測定し,皮膜の厚さCは,演算部5において(A-B)を演算して求めるよう構成してある。
請求項(抜粋):
シート状の基材の表面に,皮膜を積層してなる被覆部と上記基材が露出したままの余白部とを有する被覆シートにおける,上記皮膜の厚さを測定するための装置であって,上記被覆シートの裏面を接触させるロール面を有する円柱状の基準ロールと,該基準ロールに接触した上記被覆シートにおける,上記被覆部の厚さを測定するための被覆部測定器と,上記余白部の厚さを測定する余白部測定器と,上記被覆部測定器と上記余白部測定器との測定値を基に上記皮膜の厚さを演算するための演算部とを有し,上記被覆部測定器と上記余白部測定器とは,いずれも,上記基準ロールの上記ロール面に対して垂直方向に進退可能に設けた軸部と,該軸部の上記進退方向における変位を測定するための変位検出部と,上記軸部の先端に回転可能に設けられた球状の接触端子とを有しており,被覆部測定器は上記接触端子を上記被覆部に当接させて上記基準ロールとの間に上記被覆部を挟持してその厚さAを測定し,一方,上記余白部測定器は上記接触端子を上記余白部に当接させて上記基準ロールとの間に上記余白部を挟持してその厚さBを測定し,上記皮膜の厚さCは,上記演算部において(A-B)を演算して求めるよう構成してあることを特徴とする皮膜厚さ測定モニター装置。
IPC (2件):
G01B 5/06 101 ,  G01B 21/08 101
FI (2件):
G01B 5/06 101 ,  G01B 21/08 101
Fターム (37件):
2F062AA27 ,  2F062BB14 ,  2F062BC08 ,  2F062CC22 ,  2F062EE63 ,  2F062EE66 ,  2F062FF03 ,  2F062FF13 ,  2F062GG51 ,  2F062GG66 ,  2F062GG90 ,  2F062HH05 ,  2F062HH13 ,  2F062HH32 ,  2F062JJ04 ,  2F062LL07 ,  2F062LL11 ,  2F062NN02 ,  2F069AA46 ,  2F069BB20 ,  2F069CC06 ,  2F069DD15 ,  2F069DD25 ,  2F069GG06 ,  2F069GG52 ,  2F069GG58 ,  2F069GG62 ,  2F069GG63 ,  2F069GG66 ,  2F069GG73 ,  2F069GG78 ,  2F069HH02 ,  2F069JJ06 ,  2F069JJ13 ,  2F069LL02 ,  2F069QQ03 ,  2F069QQ05
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 膜厚測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-329998   出願人:大日本印刷株式会社
  • シート厚み自動測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-028595   出願人:日機装株式会社, 信越化学工業株式会社

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