特許
J-GLOBAL ID:200903092359290133

導通検査装置およびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 亀井 弘勝 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-278199
公開番号(公開出願番号):特開平10-125434
出願日: 1996年10月21日
公開日(公表日): 1998年05月15日
要約:
【要約】【課題】検査対象となるコネクタ1、2の多様化に対応すること。【解決手段】検査対象となるコネクタ1(2)を保持するコネクタ受け部13を介して当該コネクタ1(2)を検査時に位置決めする検査ブロック15を設ける。この検査ブロック15には、検出子ホルダ17が交換可能に設けられる。検出子ホルダ17は、コネクタ受け部13に保持されるコネクタ1(2)毎に対応する複数の検出子20を保持する。【効果】同一の検査ブロック15で複数種類のコネクタ1(2)の端子5(6)を対応する検出子20に位置決めすることが可能になる。検査部14の種類増加を可及的に低減することができる。導通検査装置10の部品管理が容易になり、導通検査装置10の製造コスト、ひいては導通検査のコストを低減することができる。
請求項(抜粋):
複数の端子を収容しているコネクタを保持するコネクタ受け部と、このコネクタ受け部に対向して設けられ、コネクタの各端子に対応した検出子が、上記コネクタ受け部に保持されたコネクタの各端子に向かって突出して並設されている検査部と、各端子に検出子を接触させる検査姿勢とコネクタ受け部に対しコネクタを着脱させる着脱姿勢との間でコネクタ受け部と検査部とを相対変位可能に連結する連結手段と、連結されたコネクタ受け部と検査部とを上記検査姿勢と着脱姿勢との間で相対的に変位させる駆動手段とを備えている導通検査装置において、上記検査部は、検査姿勢にあるコネクタ受け部を介してコネクタの端子を検出子に位置決め可能な検査ブロックと、検査ブロックに対し交換可能に装着され、コネクタ受け部に保持されるコネクタ毎に対応する上記複数の検出子を保持する検出子ホルダとを含んでいることを特徴とする導通検査装置。
IPC (2件):
H01R 43/00 ,  G01R 31/04
FI (2件):
H01R 43/00 Z ,  G01R 31/04
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • コネクタ検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-340492   出願人:住友電装株式会社

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