特許

J-GLOBAL ID：200903092412946887

コンタクトプローブ及び該コンタクトプローブを設けたICパッケージ検査用ソケット

発明者： 須賀 泉
出願人/特許権者： 株式会社ヨコオ
代理人 (1件)： 小橋 信淳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-068115
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255340
出願日： 2000年03月13日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
要約：

【要約】【課題】 高性能で、コンパクト、且つ耐久性に優れたICパッケージ検査用ソケットを得る。【解決手段】 ICパッケージ検査用ソケットにおけるコンタクトプローブ10は、第1の接触部1及び第2の接触部3と、該第1及び第2の接触部を反発付勢するコイルスプリング2とからなり、第1の接触部1は第2の接触部3側に延びる軸部1aを備え、第2の接触部は前記軸部が挿入されて摺動する軸穴3aを備えてなる構造とした。

請求項（抜粋）：

ICパッケージ検査用ソケットに設けられ、被検査ICパッケージと検査回路基板との電気的接続を確保するコンタクトプローブにおいて、第1及び第2の接触部と該第1及び第2の接触部を反発付勢するコイルスプリングとからなり、前記第1の接触部は前記第2の接触部側に延びる軸部を備え、前記第2の接触部は前記軸部が挿入されて摺動する軸穴を備えてなることを特徴とするコンタクトプローブ。

IPC (6件)：

G01R 1/073 ,  G01R 1/067 ,  G01R 31/26 ,  H01L 23/32 ,  H01R 13/24 ,  H01R 33/76

FI (6件)：

G01R 1/073 B ,  G01R 1/067 C ,  G01R 31/26 J ,  H01L 23/32 A ,  H01R 13/24 ,  H01R 33/76

Fターム (16件)：

2G003AA07 ,  2G003AG01 ,  2G003AG03 ,  2G003AG12 ,  2G003AH05 ,  2G003AH07 ,  2G011AA15 ,  2G011AB01 ,  2G011AB03 ,  2G011AB05 ,  2G011AC14 ,  2G011AE22 ,  2G011AF02 ,  5E024CA15 ,  5E024CA18 ,  5E024CB05

引用特許：

審査官引用 (2件)

• ICパッケージ測定用ソケット
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-353431   出願人：株式会社ヨコオ
• 特開平4-270967