特許
J-GLOBAL ID:200903092547549403
電気化学素子の劣化検出方法、残容量検出方法、並びにこれらを用いた充電器および放電制御装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石井 和郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-173069
公開番号(公開出願番号):特開2001-006756
出願日: 1999年06月18日
公開日(公表日): 2001年01月12日
要約:
【要約】【課題】 二次電池等の電気化学素子の劣化度合いおよび残容量を精度よく検出することができる方法を提供する。【解決手段】 電極及びイオン導電体を備えた電気化学素子の劣化検出方法であって、電気化学素子の電気化学特性を検出し、得られた値を電気化学素子の標準電気化学特性と比較して電気化学素子の劣化度合いを推定する。また、検出した劣化の度合い基づいて素子の容量を把握し、これと素子の出力から、素子の残容量を推定する。
請求項(抜粋):
電極及びイオン導電体を備えた電気化学素子の劣化検出方法であって、前記電気化学素子の電気化学特性を検出し、得られた電気化学特性を前記電気化学素子の標準電気化学特性と比較して前記電気化学素子の劣化度合いを推定する電気化学素子の劣化検出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
H01M 10/48 P
, H01M 10/42 P
Fターム (11件):
5H030AA03
, 5H030AA04
, 5H030AA08
, 5H030AA10
, 5H030AS08
, 5H030AS11
, 5H030AS14
, 5H030AS18
, 5H030BB01
, 5H030BB21
, 5H030FF41
引用特許:
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