特許
J-GLOBAL ID:200903092577374675

半導体記憶装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊丹 勝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-202886
公開番号(公開出願番号):特開平9-035490
出願日: 1995年07月17日
公開日(公表日): 1997年02月07日
要約:
【要約】【目的】 高速性能を損なうことなく耐ノイズ性向上を図った半導体記憶装置を提供する。【構成】 ビット線BLiとワード線WLjが交差して配設され、各ビット線BLiに沿って選択ワード線により駆動されるメモリセルMCijが配列され、各メモリセルMCijに固定的にデータが書き込まれるマスクROMにおいて、各ビット線BLiと平行に各ビット線BLiと対をなすダミービット線DBLiが配設され、各ダミービット線DBLiにはこれと対をなすビット線BLiに沿う各メモリセルMCijに対応して各メモリセルMCijと逆のデータが固定的に書き込まれて同じワード線により同時に選択駆動されるダミーセルDCijが配列され、ビット線BLiとこれと対をなすダミービット線DBLiの出力信号の差を検出する差動型センス回路SAiを備えた。
請求項(抜粋):
複数本ずつのビット線とワード線が交差して配設され、各ビット線に沿って選択ワード線により駆動されるメモリセルが配列され、各メモリセルに固定的にデータが書き込まれる半導体記憶装置において、各ビット線と平行に各ビット線と対をなすダミービット線が配設され、各ダミービット線にはこれと対をなすビット線に沿う各メモリセルに対応して各メモリセルと逆のデータが固定的に書き込まれて同じワード線により同時に選択駆動されるダミーセルが配列され、ビット線とこれと対をなすダミービット線の出力信号の差を検出する差動型センス回路を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。
FI (2件):
G11C 17/00 304 A ,  G11C 17/00 304 B
引用特許:
審査官引用 (2件)

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