特許

J-GLOBAL ID：200903092715085671

分光分析装置

発明者： 石橋 養親
出願人/特許権者： オリンパス株式会社
代理人 (4件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  村松 貞男 ,  風間 鉄也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-155635
公開番号（公開出願番号）：特開2004-354348
出願日： 2003年05月30日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：

【課題】共通に設けられた光学系により複数の測定地点間の相互相関解析を行うことが可能で、小型で価格的にも安価な分光分析装置を提供する。【解決手段】励起光としてのレーザ光を発生するレーザ光源1からのレーザ光を対物レンズ5を介して試料6上に集光させるとともに、XYスキャナー3によりレーザ光を試料6上で2次元走査し、レーザ光により発生する蛍光強度を光検出器8で測定するようになっていて、XYスキャナー3によるレーザ光の走査にともなう試料6上での少なくとも2つの測定地点での光検出器8からの蛍光強度信号をXYスキャナー3の走査位置情報と関連づけて相関解析装置9により測定地点間の相互相関演算を行う。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光源と、 前記光源からの光を試料上に集光させる集光手段、 前記光を前記試料上で走査する光走査手段と、 前記光により発生する光強度を検出する光検出手段と、 前記光走査手段による前記光の走査にともなう前記試料上での少なくとも2つの測定地点での前記光検出手段からの光強度情報を前記光走査手段の走査位置情報と関連づけて前記測定地点間の相互相関演算を行う相互相関演算手段と を具備したことを特徴とする分光分析装置。

IPC (1件)：

G01N21/64

FI (2件)：

G01N21/64 E ,  G01N21/64 B

Fターム (16件)：

2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043JA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 蛍光相関分光解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-004698   出願人：株式会社分子バイオホトニクス研究所
• 多光子レーザ顕微鏡法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-229511   出願人：コーネル・リサーチ・ファンデーション・インコーポレイテッド
• 蛍光分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-270530   出願人：オリンパス株式会社

審査官引用 (3件)

• 蛍光相関分光解析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-004698   出願人：株式会社分子バイオホトニクス研究所
• 多光子レーザ顕微鏡法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-229511   出願人：コーネル・リサーチ・ファンデーション・インコーポレイテッド
• 蛍光分光分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-270530   出願人：オリンパス株式会社