特許

J-GLOBAL ID：200903092724126348

液体中の微粒子の粒径、個数濃度または濁度の測定方法およびその測定装置

発明者： 山口 太秀 ,  大戸 時喜雄 ,  井上 公平 ,  平岡 睦久 ,  生駒 雅一
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-080392
公開番号（公開出願番号）：特開平9-273987
出願日： 1996年04月03日
公開日（公表日）： 1997年10月21日
要約：

【要約】【課題】純水製造装置用の膜処理技術が、水処理プロセスでも使用され始めているが、膜の異常の検知して処理水の安全性を確認するための広レンジの微粒子・濁度測定方法および測定装置の要望が強い。またこの方法および装置は、浄水の測定全般にも広く適用できるため、対応が必要となっていた。【解決手段】フローセルを流れている被測定液体に光をあて、被測定液体中の微粒子の散乱光と透過光を検知する方式により、処理水の微粒子の個数濃度測定ではP1パーティクルカウント、P2平均散乱光、P3平均吸光の3モードを、また濁度測定ではD1散乱光、D2散乱-発散光、D3発散光の3モードを、有効に組み合わせた微粒子・濁度測定方法と、P2モードとP3モードの演算法、各モードの切替え法、および上記測定法を適用した測定装置を発明した。

請求項（抜粋）：

液体中の微粒子の粒径および個数濃度の測定方法であって、被測定液体中の微粒子が低濃度の場合には、散乱光方式によって、微粒子に光ビームを照射し、散乱光強度を電気信号に変換して、電気信号の大きさから微粒子の粒径を求め、また電気信号のパルス数から粒径と個数濃度を求める測定モード(以下、P1:パーティクルカウントモードと記載)と、被測定液体中の微粒子が高濃度であり、数え落とし誤差が生じるような場合には、散乱光方式によって、微粒子に光ビームを照射し、散乱光強度を電気信号に変換して、電気信号の平均値と標準偏差とから粒径と個数濃度を求める測定モード(以下、P2:平均散乱光モードと記載)とすることを特徴とする液体中の微粒子の粒径および個数濃度の測定方法。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/47

FI (4件)：

G01N 15/14 B ,  G01N 15/14 P ,  G01N 15/14 Q ,  G01N 21/47 Z

引用特許：

審査官引用 (6件)

• 菌数測定方法とその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-021491   出願人：丹保憲仁, 富士電機株式会社
• 特開平4-024535
  
• 特開平2-128142
  
• コロイド状物質を含む溶媒の色度、濁度の測定方法と その装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-187970   出願人：富士電機株式会社
• 特開平4-024535
  
• 特開平2-128142