特許

J-GLOBAL ID：200903092736498089

点欠陥検出方法および点欠陥画素値補正方法

発明者： 山田 敦
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 深見 久郎 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-013052
公開番号（公開出願番号）：特開2000-217039
出願日： 1999年01月21日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：

【要約】【課題】 専用の回路を必要とせず、点欠陥の検出を行なうことができる画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法を提供する。【解決手段】 デジタルスチルカメラ13は、カラービューワ15が発光する光を撮像する(処理16)。CPU10は、画像データを複数のブロックに分割すし、さらに各ブロックをCCD2の各画素の全面に設けられた補色系色フィルタの色ごとに分割する(処理17)。画像データのすべての画素に対して、着目する画素が属するブロックの平均値と着目する画素の画素値との比較が行なわれ、着目画素の画素値が平均値よりも20%以上小さければ(処理19でYES)、検出個数カウンタ(図示せず)の値を1つインクリメントし(処理20)、検出された画素(点欠陥)の画素位置(アドレス)を一時記憶メモリ7に一時的に記憶する(処理21)。

請求項（抜粋）：

レンズと、前記レンズを介して入射する光を受光し、受光した光をアナログ電気信号に変換するための固体撮像素子と、前記固体撮像素子より得られるアナログ電気信号をデジタル信号の画像データに変換するためのA/D変換器と、前記A/D変換器に接続され、画像データを記憶するための第1のメモリと、点欠陥の位置を記憶するための第2のメモリと、前記第1および第2のメモリに接続され、画像データの画素値のうち、点欠陥の検出を行なうためのCPUとを含む画像信号処理装置で用いられる点欠陥検出方法であって、均一な光を受光し、受光した光をアナログ電気信号に変換するステップと、アナログ電気信号をデジタル信号の画像データに変換するステップと、画像データを予め定められた大きさの複数のブロックに分割するステップと、複数のブロックの各々について、当該ブロックに含まれる画素の画素値より、当該ブロックを代表する値を求めるステップと、画像データに含まれる各画素について、当該画素の画素値と当該画素が属するブロックを代表する値とを比較し、両者が所定の関係にあれば、当該画素を点欠陥と判断し、当該画素の位置を前記第2のメモリに記憶するステップとを含む、点欠陥検出方法。

IPC (3件)：

H04N 5/335 ,  G06T 1/00 ,  H04N 9/07

FI (3件)：

H04N 5/335 P ,  H04N 9/07 A ,  G06F 15/64 400 E

Fターム (36件)：

5B047AB02 ,  5B047AB04 ,  5B047CB30 ,  5B047DA06 ,  5B047DC06 ,  5C024AA01 ,  5C024BA01 ,  5C024CA09 ,  5C024DA01 ,  5C024EA04 ,  5C024EA08 ,  5C024FA01 ,  5C024GA16 ,  5C024HA08 ,  5C024HA12 ,  5C024HA14 ,  5C024HA18 ,  5C024HA23 ,  5C024HA24 ,  5C065AA03 ,  5C065BB23 ,  5C065CC03 ,  5C065CC08 ,  5C065CC09 ,  5C065DD07 ,  5C065DD17 ,  5C065EE07 ,  5C065EE10 ,  5C065EE12 ,  5C065GG13 ,  5C065GG17 ,  5C065GG18 ,  5C065GG22 ,  5C065GG29 ,  5C065GG30 ,  5C065GG32

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電子カメラ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-328475   出願人：コニカ株式会社
• 固体撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-054642   出願人：株式会社東芝, 東芝エー・ブイ・イー株式会社
• 撮像素子の欠陥画素補正処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-200419   出願人：東芝メディカルエンジニアリング株式会社, 株式会社東芝
• 画像入力装置および画像補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-065111   出願人：株式会社東芝