1次元または2次元検出器を用いた粉末X線回折データ測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者： , , ,
代理人 (1件)：社本一夫 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-347637
公開番号（公開出願番号）：特開2003-149180
出願日： 2001年11月13日
公開日（公表日）： 2003年05月21日
要約：

【要約】【課題】 1次元又は2次元検出器〔例えは、比例計数管位置敏感検出器(PSPC)、イメージングプレート、大型CCD検出器〕を用いたX線及び放射光粉末回折データの測定に利用される。【解決手段】 X線源として放射光の様な高エネルギーX線を使用した場合において、回折計等の測定装置に取り付けた検出器をX線検出単位(ピクセル)の間隔よりも細かく移動させ、ピクセル間を補間するデータを測定し、それらのデータを合成することにより、検出器の検出単位により制限されていた測定の空間分解能を向上させるものである。

請求項（抜粋）：

1次元または2次元検出器を用い、線源として指向性の高い平行ビームX線を用いた高分解能粉末X線回折データ測定方法において、測定装置に取り付けた検出器をX線検出単位(ピクセル)の間隔を任意の数nで割った等間隔で細かく移動させ、ピクセル間をn分割して補間するデータを測定し、移動前と移動後のn種類のデータを合成することにより、検出器の検出単位により制限されていた測定の位置分解能をn倍向上させることを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01N 23/207 , G01T 1/18 , G01T 1/24 , G21K 4/00

FI (4件)：

G01N 23/207 , G01T 1/18 D , G01T 1/24 , G21K 4/00 L

Fターム (32件)：

2G001AA01 , 2G001BA22 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001DA07 , 2G001DA09 , 2G001DA10 , 2G001JA06 , 2G001LA20 , 2G083AA03 , 2G083AA10 , 2G083BB03 , 2G083BB05 , 2G083CC10 , 2G083DD16 , 2G083EE02 , 2G088EE29 , 2G088EE30 , 2G088FF02 , 2G088FF03 , 2G088FF14 , 2G088GG03 , 2G088GG20 , 2G088GG25 , 2G088JJ04 , 2G088JJ05 , 2G088JJ22 , 2G088KK32 , 2G088KK35 , 2G088LL12 , 2G088LL13 , 2G088LL27

引用特許：

審査官引用 (1件)

特開平1-270651

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