特許

J-GLOBAL ID：200903092892483296

信号発生器及び測定器

発明者： 成川 健一 ,  永沼 英樹
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
代理人 (1件)： 渡辺 正康
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-115587
公開番号（公開出願番号）：特開平10-307168
出願日： 1997年05月06日
公開日（公表日）： 1998年11月17日
要約：

【要約】【課題】 補正演算部を設けることにより、使用者がケーブルによる信号の減衰量を考慮する必要がない信号発生器及び測定器を実現することを目的にする。【解決手段】 本発明は、被試験対象にケーブルを介して信号を出力する信号発生器に改良を加えたものである。本装置は、被試験対象に与える信号の設定レベルと設定周波数とを入力し、ケーブルによる減衰量を補正する近似式により出力レベルを演算するレベル補正演算部と、このレベル補正演算部からの出力レベルと設定周波数とを入力し、ケーブルを介して被試験対象に信号を出力する信号発生部とを有することを特徴とするものである。

請求項（抜粋）：

被試験対象にケーブルを介して信号を出力する信号発生器において、前記被試験対象に与える信号の設定レベルと設定周波数とを入力し、前記ケーブルによる減衰量を補正する近似式により出力レベルを演算するレベル補正演算部と、このレベル補正演算部からの出力レベルと前記設定周波数とを入力し、前記ケーブルを介して被試験対象に信号を出力する信号発生部とを有することを特徴とする信号発生器。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/319

FI (3件)：

G01R 31/28 P ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 R

引用特許：

審査官引用 (3件)

• IC試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-207428   出願人：横河電機株式会社
• 半導体試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-236887   出願人：松下電器産業株式会社
• 特開平1-316671