特許
J-GLOBAL ID：200903092916508813
電子制御装置、ASICおよび保護システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
西教 圭一郎
, 杉山 毅至
, 廣瀬 峰太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-290608
公開番号（公開出願番号）：特開2005-063054
出願日： 2003年08月08日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：
【課題】 自己診断機能を備えるASICなどの電子制御装置で、自己診断を行う部分に故障が発生すれば、故障が発生していることも含めて確実に診断結果を導出可能にする。【解決手段】 エアバッグシステム10でスクイブ11を駆動するASIC12には、2つのテスト回路21,22が設けられ、一方のテスト回路21がシステム制御に必要な機能14について自己診断テストを行い、テスト回路21,22同士で相互監視を行う。テスト回路21,22による自己診断テストの結果と相互監視の結果とは、結果出力回路23,24からそれぞれ通信ライン15を介してマイコン13に出力される。テスト回路7が単一のASICに比較して、テスト回路21,22内の故障についてもダイアグが可能となり、信頼性を高めることができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
予め定めるシステムの制御動作を、上位の制御装置からの制御を受けて行う電子制御装置であって、
該制御動作についての自己診断テストを行うテスト手段を複数含み、
該複数のテスト手段は、該自己診断テストとともに、テスト手段同士の相互監視も行い、自己診断結果および相互監視結果の出力を、該上位の制御装置に導出することを特徴とする電子制御装置。
IPC (4件)：
G05B23/02
, B60R16/02
, B60R21/32
, G06F11/22
G05B23/02 V
, B60R16/02 650J
, B60R21/32
, G06F11/22 360A
3D054EE14
, 3D054EE25
, 5B048AA15
, 5B048CC04
, 5B048CC11
, 5B048DD18
, 5H223AA09
, 5H223CC08
, 5H223DD05
, 5H223EE17
, 5H223EE30
