特許
J-GLOBAL ID：200903093079431773
質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
小川 勝男
, 田中 恭助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-202179
公開番号（公開出願番号）：特開2005-044594
出願日： 2003年07月28日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】質量分析の定性および定量能力を大幅に向上させる。【解決手段】イオンを生成するイオン源と、イオンを蓄積、解離するリニアトラップ部310と、飛行時間によりイオンの質量分析を行う飛行時間型質量分析部とを具備し、リニアトラップ部310から排出されたイオンの運動エネルギーを低減し、連続化するためのバッファガスが導入され、内部に多重極電場を生成する複数の電極が配置される衝突ダンピング領域を、リニアトラップ部310と飛行時間型質量分析部との間に有し、リニアトラップ部310から衝突ダンピング領域へイオン入射可能、または入射不可能とするイオン透過調整機構をリニアトラップ部310と衝突ダンピング領域との間に有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
イオンを生成するイオン源、および前記イオン源が生成するイオンを蓄積、解離を行う四重極リニアトラップ部と、該四重極リニアトラップ部から導入されるイオンの飛行時間により当該イオンの質量分析を行なう飛行時間型質量分析部と、前記リニアトラップ部と前記飛行時間型質量分析部との間に配置され内部に多重極電場を生成する複数の電極を具備する衝突ダンピング部を備えるとともに、前記リニアトラップ部および前記衝突ダンピング部にバッファガスが導入されることを特徴とする質量分析計。
IPC (4件)：
H01J49/40
, G01N27/62
, G01N27/64
, H01J49/42
H01J49/40
, G01N27/62 L
, G01N27/64 B
, H01J49/42
5C038JJ02
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
