特許
J-GLOBAL ID：200903093291802617
微粒子集合体配列基板およびその製造方法、並びに当該基板を用いた微量物質の分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
武石 靖彦
, 村田 紀子
, 徳岡 修二
, 重本 博充
, 大角 菜穂子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-237470
公開番号（公開出願番号）：特開2007-051941
出願日： 2005年08月18日
公開日（公表日）： 2007年03月01日
要約：
【課題】 従来にない新規な微粒子集合体配列基板、及びその製造方法、並びに当該基板を用いた微量物質の分析方法を提供する。【解決手段】 この微粒子集合体配列基板は、ナノ粒子が配列して形成されたナノ粒子配列構造領域が少なくとも1以上存在しており、当該ナノ粒子配列構造領域においては、ナノ粒子が列をなした状態で配置されている。ナノ粒子としては、粒子径10〜100nmの金ナノ粒子又は銀ナノ粒子であることが望ましく、SERS基質として機能し物質の分析に利用することができる。上記の基板は、粒子径が大きい方の第一の粒子の下方側に、溶媒中に分散された粒子径が小さい方の第二の粒子が自己集合するという現象を利用して製造可能である。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
基板上に、ナノ粒子が配列されることによって形成されたナノ粒子配列構造領域が少なくとも1以上存在しており、当該ナノ粒子配列構造領域においては、前記ナノ粒子が列をなした状態で配置されていることを特徴とする微粒子集合体配列基板。
IPC (3件)：
G01N 21/65
, B82B 1/00
, B82B 3/00
G01N21/65
, B82B1/00
, B82B3/00
2G043AA01
, 2G043BA14
, 2G043CA03
, 2G043DA06
, 2G043EA03
, 2G043FA06
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043GB02
, 2G043GB16
, 2G043KA09
