ATR装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：田中隆秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-208399
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046733
出願日： 1998年07月23日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】 ATR結晶上面の試料を垂直な方向から適切な押圧力で押圧し、ATR測定を高精度で行えるようにすること。【解決手段】 ATR結晶9を支持するATR結晶支持面と、前記ATR結晶9上面に設けられた移動部材支持台23と、前記ATR結晶9上面に対して離隔または接近可能に支持された第1移動部材26および第2移動部材27と、前記第2移動部材27の下端に設けられた試料押圧部材32と、前記第2移動部材27を常時下方に押圧する押圧バネと、前記第2移動部材27の下限位置を規制する第2移動部材下限位置ストッパと、前記ATR結晶9上面から常時離隔させる力を作用させる離隔バネ36と、前記第1移動部材26を作動位置と待機位置との間で前記移動部材支持台23に回転可能に支持された操作部材38+38+39とを備えたATR装置。

請求項（抜粋）：

下記の要件(A01)〜(A09)を備えたATR装置、(A01)平板状のATR結晶を水平に支持するATR結晶支持面、(A02)前記ATR結晶の上方に配置されるとともに、前記ATR結晶上面に垂直に延びる第1ガイドが設けられた移動部材支持台、(A03)前記第1ガイドにより前記ATR結晶上面に垂直な方向から前記ATR結晶上面に対して離隔または接近可能に支持された第1移動部材であって、前記ATR結晶上面に垂直に延びる第2ガイドが設けられた前記第1移動部材、(A04)前記第2ガイドにより前記ATR結晶上面に垂直な方向から前記ATR結晶上面に対して接近または離隔可能に支持された第2移動部材、(A05)前記第2移動部材の下端に設けられた試料押圧部材、(A06)前記第1移動部材と第2移動部材との間に設けられて、前記第2移動部材を常時下方に押圧する押圧バネ、(A07)前記第2移動部材の前記第1移動部材に対する下限位置を規制する第2移動部材下限位置ストッパ、(A08)前記移動部材支持台と前記第1移動部材との間に設けられて、前記第1移動部材に前記ATR結晶上面から常時離隔させる力を作用させる離隔バネ、(A09)前記移動部材支持台に回転可能に支持された操作部材であって、前記第1移動部材を前記ATR結晶に接近した接近位置に移動させる作動位置と前記ATR結晶から離隔した離隔位置に移動させる待機位置との間で回転可能な操作部材。

IPC (2件)：

G01N 21/27 , G01J 3/42

FI (2件)：

G01N 21/27 C , G01J 3/42 Z

Fターム (11件)：

2G020AA03 , 2G020CA02 , 2G020CB04 , 2G020CC11 , 2G020CC41 , 2G059BB10 , 2G059EE02 , 2G059JJ13 , 2G059JJ23 , 2G059NN04 , 2G059PP02

引用特許：

審査官引用 (7件)

ATR赤外線スペクトル測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-196210 出願人：株式会社堀場製作所
特開平1-203709
特開平1-203709

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