特許
J-GLOBAL ID：200903093486986070
光ディスク装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-358673
公開番号（公開出願番号）：特開2003-157530
出願日： 2001年11月26日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：
【要約】【課題】半導体レーザーが高温になりI-L特性が曲線になってしまう場合、直線近似でI-L特性を近似して半導体レーザーのパワー補正を行なうと精度が悪くなってしまうという問題がある。【解決手段】半導体レーザーの周囲の温度を測定する手段を設け、温度があまり高くない場合には再生パワーとマルチパルスによる記録パワーの1点(たとえばピーク検出によるパワー)からI-L特性を直線近似することにより高速にパワー補正を行ない、高温時には再生パワーとマルチパルスによる記録パワーを複数点検出することにより半導体レーザーのパワー補正を高精度に行なう。
請求項（抜粋）：
半導体レーザーと、該半導体レーザーに直流またはパルス状の駆動電流を供給するための電流生成手段と、該半導体レーザーの発光パワーを検出するためのパワー検出手段と、該パワー検出手段の出力信号のピーク値を検出するためのピーク検出手段と、該パワー検出手段の出力信号のボトム値を検出するためのボトム検出手段と、該半導体レーザーの駆動電流を演算しその結果により該電流生成手段の駆動電流を制御するプログラムを有する演算制御手段と、該半導体レーザーの温度を検出するための温度検出手段と、からなる光ディスク装置において、該演算制御手段が有するプログラムは、半導体レーザー駆動電流を異なる方法で演算する複数の電流演算工程を有するとともに、該複数の電流演算工程の中から該温度検出手段の出力する温度信号よって半導体レーザー駆動電流演算工程を選択する、ことを特徴とする光ディスク装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G11B 7/004 Z
, G11B 7/125 C
5D090AA01
, 5D090CC01
, 5D090CC04
, 5D090DD03
, 5D090EE02
, 5D090JJ07
, 5D090KK04
, 5D090KK20
, 5D119AA23
, 5D119BA01
, 5D119DA09
, 5D119FA05
, 5D119FA31
, 5D119HA30
, 5D119HA47
, 5D119HA49
, 5D789AA23
, 5D789BA01
, 5D789DA09
, 5D789FA05
, 5D789FA31
, 5D789HA30
, 5D789HA47
, 5D789HA49
