特許
J-GLOBAL ID：200903093537522716
マクロおよびミクロ走査対物レンズと互換性のある蛍光撮像システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-527806
公開番号（公開出願番号）：特表2002-505011
出願日： 1997年01月31日
公開日（公表日）： 2002年02月12日
要約：
【要約】軸上色収差を犠牲にして横方向の色収差を減少させることにより、対物レンズ(27;127)の視野において実質的に均一的な検出感度が得られるように設計された、同軸照明および集光レーザ走査システムが提供される。システムにおける軸上色収差は、リトロビーム(31)の経路において除去される。レーザ(18;117、118)は、対物レンズと光学的に通じている。レーザ(18;117、118)は、スキャナ(25)により導かれて対物レンズ(27;127)を通してサンプルの表面(29)上のスポットのラスタを照明することによりサンプルの一連の小さな領域を刺激して光を放出させる、コヒーレント光(19;119)の視準されたビームを発生させる。
請求項（抜粋）：
光学走査システムであって、 光軸および視野を規定する対物レンズを含み、前記対物レンズはサンプルに近接して位置決めされて光の入射ビームを受取り、前記ビームをサンプルに導き、サンプル上で照明されるスポットを生じさせ、前記対物レンズは前記スポットから放出される光を集めてリトロビームを形成し、前記対物レンズは横方向の色収差を減じさせる一方で前記システムに特定量の軸上色収差を導入することにより前記視野にわたり実質的に均一な検出感度を与える光学特性を有し、前記走査システムはさらに、 前記入射ビームを放出するためのビーム源と、 前記光軸における、前記サンプルの面上の前記スポットを走査するための手段と、 検出器と、 前記検出器に近接して位置決めされ、実質的に透過させる開口を有し、後方に散乱する光を制限して信号応答を増大させる空間フィルタと、 前記リトロビームの経路に配置され、前記リトロビームを前記開口に導くための結像レンズ手段とを含み、前記結像レンズ手段は前記対物レンズにより導入される軸上色収差を補償する光学特性を有し、前記走査システムはさらに、 前記光軸において前記ビーム源と前記対物レンズとの間に位置決めされ、前記入射ビームを前記リトロビームから分離させるための手段を含み、前記対物レンズは前記リトロビームを前記分離手段に導き、前記分離手段は前記リトロビームを前記開口を通して前記検出器に導く、光学走査システム。
IPC (4件)：
G02B 21/00
, G01N 21/64
, G02B 21/16
, G02B 21/36
G02B 21/00
, G01N 21/64 E
, G02B 21/16
, G02B 21/36
