特許
J-GLOBAL ID：200903093575575432

帯電解析装置

発明者：
門永 雅史

門永 雅史 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 大澤 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-204735
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033502
出願日： 1999年07月19日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
要約：
【要約】【課題】 帯電ローラを試作して実験を行ったりしなくても、帯電ローラの帯電特性が得られるようにする。【解決手段】 感光体の表面に対して帯電ローラを接触又は近接させてその感光体を帯電させる帯電装置をシミュレーションする帯電解析装置を、データ入力部1と、電界計算部2と、結果表示部3とによって構成する。そのデータ入力部1からデータを入力すれば、電界計算部2が帯電ローラのローラ層内部での2次元方向の電荷移動・移動項を考慮したオームの法則と、2次元ポアソン方程式と、パッシェンの放電則を考慮した方程式により感光体上に蓄積される電荷量を算出する。その計算結果は、結果表示部3に表示されるので、帯電ローラの帯電特性を知ることができる。
請求項（抜粋）：
感光体の表面に対して帯電ローラを接触又は近接させてその感光体を帯電させる帯電装置をシミュレーションする帯電解析装置であって、データ入力部と、電界計算部と、結果表示部とからなり、前記電界計算部は前記帯電ローラのローラ層内部での2次元方向の電荷移動・移動項を考慮したオームの法則と、2次元ポアソン方程式と、パッシェンの放電則とを考慮した方程式により前記感光体上に蓄積される電荷量を算出する計算部であることを特徴とする帯電解析装置。
IPC (3件)：
G01R 29/24 ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/00
FI (3件)：
G01R 29/24 Z ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/00
Fターム (3件)：
2H003AA00 ,  2H003BB00 ,  2H034FA07
引用特許：
出願人引用 (4件)
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