特許

J-GLOBAL ID：200903093578211318

放射線検査装置

発明者： 藤井 正司 ,  宇山 喜一郎 ,  西出 明彦 ,  本山 正史 ,  吉田 雅也 ,  山本 輝夫
出願人/特許権者： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-108052
公開番号（公開出願番号）：特開平9-292351
出願日： 1996年04月26日
公開日（公表日）： 1997年11月11日
要約：

【要約】【課題】 精度良く良品と不良品の仕分けが可能な放射線検査装置を提供する。【解決手段】 搬送手段3により搬送中の被検体6に放射線発生手段1から放射線を照射して放射線検出手段2で透過放射線を検出して放射線検出信号を生成し、該放射線検出信号に基づいて画像処理手段で被検体6の画像を処理し、当該被検体中に予め定められた特徴点を特徴点認識手段により認識した場合に、当該被検体を前記搬送手段3から除去する除去信号を発生する除去信号発生手段を備えた放射線検査装置において、被検体を除去する位置(排除位置P)を指定する除去位置指定手段を備え、特徴点認識手段が被検体中に特徴点を認識した場合に、除去位置指定手段で指定した位置に当該被検体が到達したときに除去信号発生手段から除去信号を発生するようにした。

請求項（抜粋）：

搬送手段により搬送中の被検体に放射線発生手段から放射線を照射して放射線検出手段で透過放射線を検出して放射線検出信号を生成し、該放射線検出信号に基づいて画像処理手段で被検体の画像を処理し、当該被検体中に予め定められた特徴点を特徴点認識手段により認識した場合に、当該被検体を前記搬送手段から除去する除去信号を発生する除去信号発生手段を備えた放射線検査装置において、前記被検体を除去する位置を指定する除去位置指定手段を備え、前記特徴点認識手段が被検体中に特徴点を認識した場合に、前記除去位置指定手段で指定した位置に当該被検体が到達したときに前記除去信号発生手段から除去信号を発生するようにしたことを特徴とする放射線検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G06T 7/00

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  G06F 15/62 400

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭62-075239
  
• 特開昭63-201589
  
• 鋼片の表面欠陥検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-038259   出願人：新日本製鐵株式会社