特許
J-GLOBAL ID：200903093644474163
微粒子分級装置及びその方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
笹島 富二雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-054105
公開番号（公開出願番号）：特開2001-239181
出願日： 2000年02月29日
公開日（公表日）： 2001年09月04日
要約：
【要約】【課題】粒子状汚染成分そのものの評価を可能とするため、試料ガス中のガス状汚染成分をできる限り排除し、評価の対象となる粒子状汚染成分が所望の雰囲気中に浮遊している状態を形成する。【解決手段】分取される微粒子の雰囲気とすべきガス(媒体ガス)の流れを形成すると共に、この流れを横断する方向の静電場を形成する。微粒子を含む試料ガスを、粒子荷電装置を介した後、エアロゾル流導入スリットから媒体ガスの流れに沿って流通路内に導入する。静電気力を受け、媒体ガスの流れを横断した特定の微流子を、単分散エアロゾル流導出スリットから媒体ガスと共に導出する。
請求項（抜粋）：
試料ガスに含まれる微粒子を荷電して分級する微粒子分級装置であって、前記試料ガスとは異なる媒体ガスの流れを導入する媒体ガス流導入手段と、前記媒体ガスの流れを横断する方向の静電場を形成する静電場形成手段と、試料ガスに含まれる微粒子を荷電する微粒子荷電手段と、前記微粒子が荷電された試料ガスを、前記媒体ガスの流れと共に前記静電場内に導入する試料ガス導入手段と、前記媒体ガスに接して設けられ、静電気力を受けて媒体ガスの流れを横断する方向に移動した特定粒径の微粒子を、前記媒体ガスと共に導出する特定微粒子導出手段と、を含んで構成される微粒子分級装置。
IPC (7件)：
B03C 7/02
, B03C 7/12
, G01N 1/02
, G01N 1/04
, G01N 15/02
, G01N 21/73
, G01N 27/62
B03C 7/02 B
, B03C 7/12
, G01N 1/02 K
, G01N 1/04 M
, G01N 15/02 F
, G01N 21/73
, G01N 27/62 C
, G01N 27/62 V
2G043CA06
, 2G043DA01
, 2G043DA05
, 2G043EA08
, 2G043GA07
, 2G043GB12
, 4D054GA02
, 4D054GA09
, 4D054GB06
, 4D054GB09
