特許

J-GLOBAL ID：200903093673128169

LSI組み合わせ回路故障推論装置

発明者： 浜村 誠一
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 若林 忠 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-203407
公開番号（公開出願番号）：特開平11-044735
出願日： 1997年07月29日
公開日（公表日）： 1999年02月16日
要約：

【要約】【課題】 故障推論を実用的な計算量で行うこと、および、半導体集積回路の診断を統括的に診断を行ない、むらなく故障可能性検出を行うことのできるLSI組み合わせ回路故障推論装置を実現すること。【解決手段】 半導体集積回路の回路情報データを格納するCADデータ格納装置と、半導体集積回路のテストを行なうLSIテスト装置と、前記CADデータ格納装置に格納された半導体集積回路の回路情報データおよび前記LSIテスト装置のテスト結果に従って半導体集積回路を出力から遡りながら故障箇所探索を行い、その結果を確率で表現するLSI故障診断装置と、を有する。

請求項（抜粋）：

半導体集積回路の回路情報データを格納するCADデータ格納装置と、半導体集積回路のテストを行なうLSIテスト装置と、前記CADデータ格納装置に格納された半導体集積回路の回路情報データおよび前記LSIテスト装置のテスト結果に従って半導体集積回路を出力から遡りながら故障箇所探索を行い、その結果を確率で表現するLSI故障診断装置と、を有するLSI組合せ回路故障推論装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G06F 17/50

FI (2件)：

G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 672 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 故障検出システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-177505   出願人：北陸日本電気ソフトウェア株式会社
• 特開平3-120485