特許
J-GLOBAL ID:200903093877619080
積層セラミックコンデンサの選別方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小柴 雅昭 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-008953
公開番号(公開出願番号):特開2000-208380
出願日: 1999年01月18日
公開日(公表日): 2000年07月28日
要約:
【要約】【課題】 多数の積層セラミックコンデンサを、高い信頼性をもってかつ能率的に選別できる方法を提供する。【解決手段】 70〜140°Cの温度において、互いに対向する内部電極間に印加される電界強度が7〜30kV/mmとなるように積層セラミックコンデンサに電圧を印加する、バーンイン工程を実施し、次いで、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定し、この絶縁抵抗測定工程で測定された絶縁抵抗に基づいて積層セラミックコンデンサを選別するようにする。この場合、バーンイン工程は、2〜300秒の間、実施されれば十分である。
請求項(抜粋):
70〜140°Cの温度において、互いに対向する内部電極間に印加される電界強度が7〜30kV/mmとなるように積層セラミックコンデンサに電圧を印加する、バーンイン工程と、次いで、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定する、絶縁抵抗測定工程と、前記絶縁抵抗測定工程で測定された絶縁抵抗に基づいて積層セラミックコンデンサを選別する、選別工程とを備える、積層セラミックコンデンサの選別方法。
IPC (2件):
H01G 13/00 361
, G01R 31/00
FI (2件):
H01G 13/00 361 D
, G01R 31/00
Fターム (13件):
2G036AA03
, 2G036AA18
, 2G036AA27
, 2G036BB02
, 5E082AB03
, 5E082BC40
, 5E082FG26
, 5E082MM35
, 5E082MM38
, 5E082PP01
, 5E082PP05
, 5E082PP06
, 5E082PP09
引用特許:
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