膜分離装置の汚染状態の診断方法、診断装置、および膜分離装置の洗浄方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人高橋・林アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-198725
公開番号（公開出願番号）：特開2007-014878
出願日： 2005年07月07日
公開日（公表日）： 2007年01月25日
要約：

【課題】逆浸透膜等の分離膜の汚染状態を簡易かつ適切に診断し、汚染状態に応じた膜分離装置の洗浄方法や運転管理を可能とすること。【解決手段】被処理液側に位置する第1膜面と、この第1膜面の反対側面であって透過液側に位置する第2膜面とを備える逆浸透膜等の分離膜について、第1膜面の表面粗さの変化と、第1膜面に付着した汚染物質の付着量とを指標として、分離膜の汚染状態を診断する。表面粗さの変化と、汚染物質の付着量とは、例えば平面座標にプロットする。診断対象の分離膜についての計測値がプロットされる位置に応じて、分離膜の汚染タイプが診断され、適切な洗浄方法が選択できる。例えば領域Zに位置する場合は有機物が主体の汚染と診断され、領域Wに位置する場合は有機物と無機物による汚染と診断され、領域Yに位置する場合は無機スケールを主体とする汚染と診断される。【選択図】図7

請求項（抜粋）：

不純物を含む被処理液に面する第1膜面と、前記第1膜面の反対側面であって前記被処理液から不純物が除去された透過液に面する第2膜面と、を有する分離膜を備える膜分離装置の汚染状態の診断方法であって、前記第1膜面の表面粗さの変化と、前記第1膜面に付着した汚染物質の付着量と、に基づき前記分離膜の汚染状態を診断する診断工程を含む膜分離装置の汚染状態の診断方法。

IPC (5件)：

B01D 65/00 , B01D 61/02 , B01D 65/02 , B01D 69/12 , B01D 71/56

FI (5件)：

B01D65/00 , B01D61/02 , B01D65/02 , B01D69/12 , B01D71/56

Fターム (16件)：

4D006GA03 , 4D006HA61 , 4D006KC16 , 4D006KD15 , 4D006KD17 , 4D006LA10 , 4D006MA03 , 4D006MA06 , 4D006MC18 , 4D006MC29 , 4D006MC33 , 4D006MC54X , 4D006PA01 , 4D006PB02 , 4D006PC01 , 4D006PC42

引用特許：

出願人引用 (2件)

特許第3311158号公報
分離膜の汚染分析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-020311 出願人：日東電工株式会社

審査官引用 (1件)

分離膜の汚染分析方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-020311 出願人：日東電工株式会社

引用文献：

出願人引用 (4件)

全件表示

審査官引用 (4件)

全件表示

前のページに戻る