特許
J-GLOBAL ID：200903094109675474

X線異物検出装置

発明者：
関 隆行

関 隆行 について

, 
八木 将博

八木 将博 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-259849
公開番号（公開出願番号）：特開2003-065976
出願日： 2001年08月29日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：
【要約】【課題】 収容体内での被検査物の相対面積が小さく、複数個収容される場合であっても、被検査物の欠品を正確に検出でき、装置の信頼性を向上できること。【解決手段】 欠品検出部17の閾値設定部17aには、被検査物WのX線透過量に対する所定の閾値が設定され、被検査物抽出部17bでは、X線検出器3から出力されるX線透過量のデータから閾値より低い被検査物Wの領域を画素数のカウントにより面積として求める。欠品判断部17cは、得られた面積を基準面積と比較し、被検査物Wの面積が低い場合には不良品であると判断する。これにより収容体Tの大きさに対し被検査物Wの相対面積が小さく複数個収容される場合であっても、被検査物Wの欠品や欠損等を検出でき、正確な不良品検出が行える。
請求項（抜粋）：
収容体(T)に収容された被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するX線異物検出装置(1)において、前記収容体内部の被検査物のX線透過量に対し所定の閾値を設定する閾値設定部(17a)と、被検査物上でのX線透過量が前記閾値より低い領域の面積を求める被検査物抽出部(17b)と、前記得られた被検査物の面積を予め設定された基準面積と比較し、被検査物の面積が基準面積を越えれば収容体内での被検査物が正常であると判断し、被検査物の面積が基準面積より低い場合には収容体内での被検査物が不良品であると判断する欠品判断部(17c)と、を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2件)：
G01N 23/10 ,  B07C 5/342
FI (2件)：
G01N 23/10 ,  B07C 5/342
Fターム (29件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001FA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA07 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001KA05 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  3F079AC02 ,  3F079AD08 ,  3F079CA44 ,  3F079CB07 ,  3F079CB25 ,  3F079CB32 ,  3F079CB34 ,  3F079CB35 ,  3F079DA12 ,  3F079EA19
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 放射線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-118629   出願人：株式会社島津製作所
  • 特開平4-130254
  • 錠剤検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-237049   出願人：株式会社湯山製作所

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