特許
J-GLOBAL ID：200903094223799183

果実の浮き皮判定方法およびその装置

発明者：
戸井田 秀基

戸井田 秀基 について


出願人/特許権者：
株式会社テクノイシイ

株式会社テクノイシイ について


代理人 (1件)： 永田 良昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-180576
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170456
出願日： 1997年06月19日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
要約：
【要約】【課題】この発明は、機械的な判定ができて、正確で安定した判定結果が得られ、従来の人による判定に要した熟練や労力を皆無となし、判定時間も短縮することかできる果実の浮き皮判定方法およびその装置の提供を目的とする。【解決手段】この発明は、果実にX線や赤外線などの電磁波を照射する電磁波照射手段と、果実を透過した電磁波を受光してその検出パターンを出力する電磁波受光手段と、浮き皮を判定するために比較パターンを記憶する記憶手段と、前記電磁波受光手段が出力する検出パターンと記憶手段から読出した比較パターンとを比較して浮き皮の有無を判定する判定手段とを備え、果実にX線や赤外線などの電磁波を照射し、果実を透過した電磁波の検出パターンを比較パターンと比較して果実の浮き皮の有無を判定する果実の浮き皮判定方法およびその装置であることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
果実を透過する電磁波を果実に照射し、果実を透過した電磁波の検出パターンを比較パターンと比較して果実の浮き皮の有無を判定する果実の浮き皮判定方法。
IPC (5件)：
G01N 23/18 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/59 ,  G01N 21/85 ,  G01N 23/06
FI (5件)：
G01N 23/18 ,  G01N 21/17 A ,  G01N 21/59 Z ,  G01N 21/85 A ,  G01N 23/06
引用特許：
審査官引用 (4件)
  • 特開平3-235041
  • 特開昭63-293450
  • 非破壊検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-015422   出願人：株式会社東芝
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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