特許
J-GLOBAL ID：200903094236916448
強化された診断機能付き低電力レーダー式レベル装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
田中 香樹 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-294070
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133313
出願日： 2000年09月27日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】強化された診断機能を有する低電カレーダー式レベル装置を提供する。【解決手段】マイクロ波トランシーバ140がマイクロ波信号を発生し、該マイクロ波信号は、基準インピーダンス不連続面155を介して、成端110に沿って進行し、プロセス製品の界面127内に伝播する。前記信号の第1部分が基準インピーダンス不連続面によって反射され、第2部分がプロセス製品の界面によって反射される。診断信号が、第1反射部分の特性に基づいて発生される。レベル出力が、第1および第2の反射部分に基づいて発生される。
請求項（抜粋）：
強化された診断機能を有する低電力レーダー式レベル装置であって、基準インピーダンス不連続面を有し、プロセス製品の界面を介してプロセス製品内に延在することができるプローブ、前記プローブに接続されて、前記プローブに沿ってプロセス製品内に伝送されるマイクロ波伝送パルスを生ずるように適応されたトランシーバであって、前記伝送パルスの第1部分が基準インピーダンス不連続面で反射されて第1反射波パルスを形成し、前記伝送パルスの第2部分が製品の界面で反射されて第2反射波パルスを形成し、前記反射された第1および第2部分を受信するように適応されたトランシーバ、および前記トランシーバに接続されて、前記反射された第1部分の振幅の関数として診断信号を提供するように適応され、また前記反射された第2部分の検出時間に基づいて、プロセス製品の高さを表すレベル出力を提供するように適応されたプロセッサを含むレベル装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01F 25/00 A
, G01F 23/28 D
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (6件)
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