光学計測用炭素基板とその製造方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：青木篤 , 鶴田準一 , 島田哲郎 , 土屋繁 , 西山雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-366197
公開番号（公開出願番号）：特開2005-127965
出願日： 2003年10月27日
公開日（公表日）： 2005年05月19日
要約：

【課題】不透明な材料を基板として用いて光学計測を可能とするため表面が極めて平坦な炭素基板を比較的低コストで提供する。【解決手段】フラン樹脂などの熱硬化性樹脂に粒径10μm以下の黒鉛粉末を混合しシート状に成型後不活性雰囲気下で1400°Cで焼成して得られた炭素基板の表面を平坦に研削する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ガラス状炭素と該ガラス状炭素中に均一に分散した結晶性炭素とを含む光学計測用炭素基板。

IPC (1件)：

G01N21/01

FI (1件)：

G01N21/01 B

Fターム (9件)：

2G045DA13 , 2G045FA11 , 2G045FA16 , 2G045FB16 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059DD13 , 2G059KK07

引用特許：

出願人引用 (5件)

電気化学計測用炭素材料およびその製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-081459 出願人：三菱鉛筆株式会社
DNAチップ基板及びその製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-312738 出願人：ユニチカ株式会社
反応チップ用基板およびこれから作製した反応チップ
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-195643 出願人：鐘淵化学工業株式会社

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審査官引用 (5件)

アモルファスカーボン基材
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-016950 出願人：クラスターテクノロジー株式会社
ガラス状炭素/黒鉛複合材料
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-045699 出願人：東洋炭素株式会社
特開平4-149066

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