特許
J-GLOBAL ID：200903094541260609
露出制御システムを含むX線検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-529375
公開番号（公開出願番号）：特表2000-512799
出願日： 1998年03月23日
公開日（公表日）： 2000年09月26日
要約：
【要約】X線検査装置は、X線像から映像信号を得るX線検出器(1)と、X線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含む。露出制御システムは、X線像の輝度値のヒストグラムを形成し、ヒストグラムから主として着目画像情報を表現する輝度値に関係する画像成分を抽出する算術ユニット(4)を含む。露出制御システムは、画像成分に基づいてX線検査装置を調節するよう構成される。
請求項（抜粋）：
X線像を受信するX線検出器(1)と、 X線検査装置を調節する露出制御システム(2)とを含むX線検査装置において、 上記露出制御システム(2)は、 上記X線像の輝度値のヒストグラムを形成し、 上記ヒストグラムから主として着目画像情報を表現する輝度値に関係する画像成分を抽出する算術ユニット(4)を含み、 上記露出制御システムは、上記画像成分に基づいてX線検査装置を調節するよう構成されていることを特徴とするX線検査装置。
引用特許：
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