特許

J-GLOBAL ID：200903094626036333

X線回折装置

発明者： 中島 紀伊知
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-197493
公開番号（公開出願番号）：特開2001-021509
出願日： 1999年07月12日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
要約：

【要約】【課題】本発明の課題は、X線受光系の開口角度を3度以上に広く設定できるようにすることにより、一般の指数(hkl)反射測定をより簡便におこなえ、また、複雑な構造をもつ多用な試料に対して、簡便に解析を行うための指数(hkl)依存性を用いた種々の解析法をより簡便に適用できるX線回折装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、X線回折装置中のX線受光器2であって、測定試料の位置から受光器2を見た場合の該受光器開口角度が、2θ見込み角度にして3度以上の広い2θ開口角度を有するX線受光器2を具備することを特徴とするものである。

請求項（抜粋）：

X線回折装置中のX線受光器であって、測定試料の位置から受光器を見た場合の該受光器開口角度が、2θ見込み角度にして3度以上の広い2θ開口角度を有するX線受光器を具備することを特徴とするX線回折装置。

Fターム (14件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA06 ,  2G001DA10 ,  2G001EA01 ,  2G001FA25 ,  2G001FA30 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001KA08 ,  2G001LA11 ,  2G001SA01

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平2-218945
  
• 線状X線検出器を備えたX線回折装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-175206   出願人：理学電機株式会社
• X線集光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-290511   出願人：理学電機株式会社
• 特開平1-270651