特許
J-GLOBAL ID：200903094644629864
ダイオキシン簡易連続分析法と装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松永 孝義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-123354
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314732
出願日： 1999年04月30日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：
【要約】【課題】 簡易的かつ迅速的に定期、排気ガス、土壌などの中のDXN類を取り出し、ダイオキシン類およびフラン類(DXN類)を測定するモニタシステムを提供すること。【解決手段】 大気又は排気ガス中の各々20種類以上の異性体があるDXN類の特定の他のDXN類のガスクロマトグラフ検出ピークと離れたところ(保持時間が大きく異なる)に検出ピークを持つ1種類または2種類をガスクロマトグラフィー(低分解能GC/MSまたはSAW/GC)で数秒〜数分間で検出することによって、予め求めた検量線に基づき全毒性等量(TEQ)を算出し、ほぼ同時(リアルタイム)にDXN類のTEQを測定する。
請求項（抜粋）：
試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類をガスクロマトグラフィーを用いて検出し、連続的に計測するダイオキシン簡易連続分析法において、試料ガス中に含まれる他のダイオキシン類及びフラン類のガスクロマトグラフィ検出ピークとは離れたところに検出ピークを持つ1種および/または2種のダイオキシン類及びフラン類の量をガスクロマトグラフィにより定量することによって、予め求められている前記化合物の含有量と全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)との相関関係を示す検量線から全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)を求めることを特徴とするダイオキシン簡易連続分析法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 30/88 C
, G01N 30/86 G
