特許

J-GLOBAL ID：200903094728543566

測距装置

発明者： 武田 浩
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 石橋 佳之夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-153212
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005618
出願日： 1995年06月20日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：

【要約】【目的】 カメラでのレイアウトの自由度を向上させると共に、被写体の表面形状あるいは赤外線ビームの欠け等によって測距誤差が生じない測距装置を得る。【構成】 被写体3に向けて光を投光する投光手段Cと、投光手段Cによる光の反射光を受光するために一定の基線長を隔てて配置された第1の受光手段Aと、第1の受光手段Aが配置された基線長方向の異なる位置に配置された第2の受光手段Bとを有する投光式の測距装置。

請求項（抜粋）：

被写体に向けて光を投光する投光手段と、上記投光手段による光の反射光を受光するために一定の基線長を隔てて配置された第1の受光手段と、上記第1の受光手段が配置された基線長方向の異なる位置に配置された第2の受光手段とを有することを特徴とする投光式の測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/32 ,  G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G02B 7/11 B ,  G01B 11/00 B ,  G01C 3/06 A ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 測距装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-187945   出願人：キヤノン株式会社
• 特開昭63-265230
  
• 特開昭63-265230