特許

J-GLOBAL ID：200903094946064521

岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測方法

発明者： 後藤 雪夫 ,  鈴木 哲也 ,  佐藤 昌志 ,  中井 健司 ,  加賀谷 芳之 ,  倉嶋 利雄 ,  田中 郁昭 ,  薄 知規
出願人/特許権者： 計測技販株式会社 ,  日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 杉山 誠二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-017497
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197298
出願日： 1997年01月14日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】 岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測を実質的に連続した測定箇所において容易に行うことができる方法を提供することである。【解決手段】 変状計測を行おうとする岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に光ファイバケーブルを取付け、光ファイバケーブルの一端に歪・損失統合型光パルス試験器を接続し、光ファイバケーブルに生ずる長さ方向歪を歪・損失統合型光パルス試験器で測定することによって、岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に生ずる変状を計測することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物の変状計測方法であって、変状計測を行おうとする岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に光ファイバケーブルを取付け、光ファイバケーブルの一端に歪・損失統合型光パルス試験器を接続し、光ファイバケーブルに生ずる長さ方向歪を歪・損失統合型光パルス試験器で測定することによって、岩盤、斜面、土構造物、及び土木構造物に生ずる変状を計測することを特徴とする方法。

IPC (4件)：

G01D 21/00 ,  G01B 11/16 ,  G01C 7/06 ,  G02B 6/00

FI (4件)：

G01D 21/00 D ,  G01B 11/16 Z ,  G01C 7/06 ,  G02B 6/00 B

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平2-242119
  
• 斜面異常観測システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-149139   出願人：住友電気工業株式会社