特許
J-GLOBAL ID：200903094965438122
水素吸蔵合金の結晶構造解析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-338107
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139726
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：
【要約】【課題】水素吸蔵合金の結晶構造を水素吸蔵合金に吸蔵された水素吸蔵量と関係づけて解析することができる水素吸蔵合金の結晶構造解析方法を提供すること。【解決手段】水素吸蔵合金MHを保持する試料室10と、その水素吸蔵合金MHの結晶構造を解析するX線回折装置20、30、40と、試料室10内の水素圧を変化させて水素を供給する水素供給装置60と、水素吸蔵合金MHの熱量変化を検出する熱量変化検出手段50とを備える水素吸蔵合金収納装置を用いて、水素供給装置60によって試料室10に水素を供給して水素吸蔵合金MHに水素を吸蔵させ、水素を吸蔵した水素吸蔵合金MHの熱量変化を熱量検出手段50によって検出して予め測定した水素吸蔵合金MHの水素吸蔵量と熱量変化との関係に基いて検出された熱量変化から水素吸蔵量を導出し、水素吸蔵量が導出された水素吸蔵合金MHをX線回折装置20、30、40によって結晶構造を解析する。
請求項（抜粋）：
入射されたX線に照射される位置に水素吸蔵合金を保持する試料室と、前記試料室に保持された前記水素吸蔵合金にX線を照射して前記水素吸蔵合金の結晶構造を解析するX線回折装置と、前記試料室に連通し前記試料室内の水素圧を変化させながら所定の水素圧になるまで水素を供給する水素供給装置と、前記試料室に保持された前記水素吸蔵合金の熱量変化を検出する熱量変化検出手段とを備える水素吸蔵合金収納装置を用いて、前記水素吸蔵合金の結晶構造を前記水素吸蔵合金に吸蔵された水素吸蔵量と関係づけて解析することができる水素吸蔵合金の結晶構造解析方法であって、前記水素供給装置によって前記試料室に水素を供給して前記試料室に保持された前記水素吸蔵合金に水素を吸蔵させる水素吸蔵ステップと、水素を吸蔵した前記水素吸蔵合金の熱量変化を前記検出手段によって検出して予め測定した前記水素吸蔵合金の水素吸蔵量と熱量変化との関係に基いて検出された前記熱量変化から前記水素吸蔵合金に吸蔵された水素吸蔵量を導出する吸蔵量導出ステップと、前記吸蔵量導出ステップにおいて前記水素吸蔵量が導出された前記水素吸蔵合金を前記X線回折装置によって結晶構造を解析する吸蔵過程結晶構造解析ステップとを有することを特徴とする水素吸蔵合金の結晶構造解析装方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 23/201
, G01N 25/20 C
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001JA12
, 2G001LA02
, 2G001PA29
, 2G001QA01
, 2G001RA10
, 2G040AB12
, 2G040BA08
, 2G040BA25
, 2G040CA02
, 2G040CB02
, 2G040DA02
, 2G040GA04
, 2G040HA06
