特許
J-GLOBAL ID：200903095175694583
複数の波長依存性物質を含む試料の分析方法及び分析装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
大西 正悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-436342
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172776
出願日： 2003年12月07日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：
【課題】 本発明は、複数の目的波長光に対応する試料中の目的の波長依存性物質のみを照射する複数の波長依存性物質を含む試料の分析方法及び分析装置を提供する。【解決手段】 本発明によれば、白色連続スペクトル光パルスを分光する分光工程と、分光された各波長中の複数の目的波長光のみを選択する波長光選択工程と、選択された複数の目的波長光を合成することにより各目的波長光を含有する合成光パルスを生成する合成光パルス生成工程と、生成された前記合成光パルスを顕微鏡に配設された試料に照射する合成光パルス照射工程とを有している。また、透明物質から試料までの光学系で透明物質と顕微鏡とで生じる光パルスの分散を補償する分散補償工程を有することで短パルス幅の目的波長光を試料に照射することができる。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
スペクトルを拡散させるための透明物質を介して超短光パルスから生成される白色連続スペクトル光パルスを分光する分光工程と、分光された各波長中の複数の目的波長光のみを選択する波長光選択工程と、選択された複数の目的波長光を合成することにより各目的波長光を含有する合成光パルスを生成する合成光パルス生成工程と、生成された前記合成光パルスを顕微鏡に配設された試料に照射する合成光パルス照射工程と、を有する前記複数の目的波長光に対応する前記試料中の目的の波長依存性物質のみを照射する複数の波長依存性物質を含む試料の分析方法であって、
前記透明物質から試料までの光学系で、該透明物質と顕微鏡とで生じる光パルスの分散を補償する分散補償工程を有することで短パルス幅の目的波長光を試料に照射する、ことを特徴とする複数の波長依存性物質を含む試料の分析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (20件)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043GB18
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA07
, 2G043HA15
, 2G043JA05
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2H052AA09
, 2H052AC12
, 2H052AC30
, 2H052AC34
