特許
J-GLOBAL ID：200903095193640652

光学式物体識別装置、それを用いた印刷装置および物体種類分類装置

発明者：
山口 陽史

山口 陽史 について

, 
椙山 尚和

椙山 尚和 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (3件)： 青山 葆 ,  河宮 治 ,  山崎 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-350900
公開番号（公開出願番号）：特開2004-184203
出願日： 2002年12月03日
公開日（公表日）： 2004年07月02日
要約：
【課題】被検出物からの反射光によって簡単に多くの種類を識別する。【解決手段】発光素子21からの光の偏光方向を入射面に垂直(または平行)にして、被検出物27上に50μm径以下の光スポット28を形成する。互いの光軸を直交させて設けられた受光素子25,25’のうちの一方の受光素子25の前面には、入射面に平行(または垂直)に偏光した光を通過させる偏光板30を配置する。そして、光スポット28からの入射光をビームスプリッタ31で夫々の受光素子25,25’へ入射させる。信号処理部は、受光素子25からの検出信号と受光素子25’からの検出信号との夫々に対して少なくとも1つの信号処理方法を実行し、両処理結果の比を算出する。こうして、発光素子21からの光の偏光方向が被検出物27での反射時に崩れる度合いを検出して、被検出物27の種類をより正確に識別する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
発光素子および対物レンズを含むと共に、上記発光素子からの光を移動している被検出物に照射して被検出物上に光スポットを形成する少なくとも1つの発光側光学系と、 受光レンズおよび受光素子を含むと共に、上記光スポットからの反射光が上記受光素子に入射されて上記被検出物の表面凹凸に応じた波形の出力信号を出力する少なくとも1つの受光側光学系と、 上記受光側光学系から出力される出力信号に対して信号処理を行う信号処理部を備えたことを特徴とする光学式物体識別装置。
IPC (4件)：
G01B11/30 ,  B41J2/01 ,  B65H7/14 ,  G01N21/47
FI (4件)：
G01B11/30 A ,  B65H7/14 ,  G01N21/47 Z ,  B41J3/04 101Z
Fターム (45件)：
2C056EA04 ,  2C056EB13 ,  2C056EB45 ,  2C056EC42 ,  2F065AA49 ,  2F065BB02 ,  2F065CC02 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF44 ,  2F065GG06 ,  2F065HH04 ,  2F065HH08 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ15 ,  2F065LL33 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM03 ,  2G059MM20 ,  2G059NN01 ,  3F048AA01 ,  3F048AB01 ,  3F048BA06 ,  3F048CB04 ,  3F048DC14
引用特許：
審査官引用 (3件)

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