特許
J-GLOBAL ID：200903095196869502
製造職場の評価方法及びシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-217197
公開番号（公開出願番号）：特開2001-042926
出願日： 1999年07月30日
公開日（公表日）： 2001年02月16日
要約：
【要約】【課題】 製造職場が原因で発生する不良率を予測するのに適した評価方法及び評価システムを提供する。【解決手段】 種々の職場条件の中から、不良発生度に影響を与える職場条件不良影響項目をについて、それぞれの職場条件不良影響項目ごとに、職場状態に応じた不良の起こし易さの度合いを示す値を記憶する手段と、評価対象職場の職場状態情報の入力を受け付ける手段と、該受け付けた職場状態情報に基き、該記憶手段に記憶されている職場条件不良影響項目ごとの不良の起こし易さの度合いを示す値を抽出し、該抽出した職場条件項目ごとの不良の起こし易さの度合いを示す値により、評価対象職場の不良率を算出する。
請求項（抜粋）：
製造対象を製造する職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測する職場評価システムにおいて、前記職場環境のうち不良発生の原因となる1以上の不良原因項目について、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分して定めたレベルの範囲を記憶する記憶手段と、前記不良原因項目についての職場状態を示す情報の入力を受け付ける受付手段と、前記受付手段が受け付けた前記職場状態を示す情報が、前記記憶手段に記憶した前記複数の段階に区分して定めたレベルの範囲のうち、いずれのレベルに属するかを判別する判別手段と、前記判別手段により判別されたレベルの職場状態が、製造対象の製造から出荷までの過程における複数の仕事で、不良品の出荷に影響する仕事別影響度を決定する仕事別影響度決定手段と、前記仕事別影響度を用いて、当該職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する割合を予測することを特徴とする職場評価システム。
IPC (4件)：
G05B 23/02
, B23Q 41/08
, G05B 15/02
, G06F 17/60
G05B 23/02 V
, B23Q 41/08 Z
, G05B 15/02 Z
, G06F 15/21 R
3C042RJ07
, 5B049AA02
, 5B049BB07
, 5B049CC21
, 5B049CC23
, 5B049DD01
, 5B049DD05
, 5B049EE02
, 5B049EE05
, 5B049EE56
, 5B049FF03
, 5B049GG09
, 5H215AA06
, 5H215BB11
, 5H215BB20
, 5H215CC05
, 5H215CX01
, 5H223AA05
, 5H223CC08
, 5H223DD03
, 5H223DD09
, 5H223EE30
