特許
J-GLOBAL ID：200903095523360937
製品品質向上支援システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-191765
公開番号（公開出願番号）：特開平10-040289
出願日： 1996年07月22日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：
【要約】【課題】検査に関して熟練しておらず、製品に関して詳しい知識を持たない者に短時間で、例え、製品に新部品が含まれる部品であっても、どの工程が不良の要因となっているのか、どのパラメタが不良にどれくらい寄与しているのかを教えることにより、製品の品質を向上させる。【解決手段】計算機システムを用いて、製品とそれに関連する部品の統計データを処理する製品品質向上支援システムにおいて、製品に関連する部品のデータ入力手段と、最悪値偏差、総合標準偏差を求める手段と、前記各公差から求まる標準偏差と、一つ以上の公差の全体を統計的に評価する量を比較する工程寄与率計算部と、不良とパラメタの相関関係を評価するパラメタ設計計算部と、不良要因の改善条件教示部とを有する。そして、不良要因の改善条件教示部によって、不良の原因となる工程とパラメタを教示する。また、新部品は、計算機シュミレーションによる統計データを得る。
請求項（抜粋）：
計算機システムを用いて、製品とそれに関連する部品の統計データを処理して、その結果に基づいて製品品質の向上を図る製品品質向上支援システムにおいて、このシステムは、前記製品に関連する部品の不良データと公差を入力する手段と、前記製品の製造工程で用いられる一つ以上の公差の全体を統計的に評価する量を求める手段と、工程寄与率計算部と、パラメタ設計計算部と、不良要因の改善条件教示部とを有し、前記工程寄与率計算部は、前記各公差から求まる標準偏差と、一つ以上の公差の全体を統計的に評価する量を比較して、前記パラメタ設計計算部は、不良とパラメタの相関関係を評価して、その結果より、不良要因の改善条件教示部によって、不良の原因となる工程とパラメタを教示することにより製品品質の向上を図る製品品質向上支援システム。
引用特許：
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