特許
J-GLOBAL ID:200903095602142295
測定装置
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
藤元 亮輔
, 水本 敦也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-236711
公開番号(公開出願番号):特開2009-066125
出願日: 2007年09月12日
公開日(公表日): 2009年04月02日
要約:
【課題】被検体の局所的な吸収散乱特性を高精度かつ比較的簡単に測定することが可能な測定装置を提供する。【解決手段】被検体E内部の被検部位Xの分光特性をAOTを利用して測定する測定装置100において、被検部位Xから検出位置までの光の伝播経路P上に被検部位Xとは別に設定された被測定領域MAの光強度を測定する測定部と、測定部が測定した被検体Eの表層E1に最も近い最外周領域Gにある被測定領域MAの光強度を利用して、光の伝播経路P上にある被測定領域MA及び被検部位Xの分光特性を光検出器8から被検部位Xに向かって順次修正する信号処理装置10と、を有することを特徴とする測定装置100を提供する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被検体内部の被検部位の分光特性を音響光学トモグラフィを利用して測定する測定装置において、
前記被検部位から検出位置までの光の伝播経路上に前記被検部位とは別に設定された被測定領域の光強度を測定する測定部と、
前記測定部が測定した前記被検体の表層に最も近い最外周領域にある被測定領域の光強度を利用して、前記光の伝播経路上にある前記被測定領域及び前記被検部位の分光特性を前記光検出器から前記被検部位に向かって順次修正する信号処理装置と、を有することを特徴とする測定装置。
IPC (4件):
A61B 10/00
, A61B 8/08
, G01N 21/17
, G01N 29/00
FI (4件):
A61B10/00 E
, A61B8/08
, G01N21/17 625
, G01N29/00 501
Fターム (34件):
2G047AC13
, 2G047BC13
, 2G047CA04
, 2G047DA02
, 2G047DB02
, 2G047DB12
, 2G047EA07
, 2G047GB02
, 2G047GH09
, 2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059CC18
, 2G059EE01
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG06
, 2G059GG08
, 2G059HH02
, 2G059HH03
, 2G059HH06
, 2G059JJ17
, 2G059KK01
, 2G059KK02
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM10
, 2G059PP04
, 4C601BB02
, 4C601DE16
, 4C601EE09
, 4C601GB04
, 4C601GB32
, 4C601HH29
引用特許:
出願人引用 (7件)
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米国特許第6738653号明細書
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米国特許第5840023号明細書
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特許第3107914号明細書
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審査官引用 (4件)