特許

J-GLOBAL ID：200903095643841475

部品実装基板用の検査方法および検査システム、部品実装基板の製造方法

発明者： 長野 竜也 ,  長尾 嘉祐 ,  谷上 昌伸 ,  中田 剛司 ,  平岡 義明 ,  杉原 央視
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-063330
公開番号（公開出願番号）：特開2005-303269
出願日： 2005年03月08日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：

【課題】 不良と判断された基板について、その不良判定を行った検査機や他の工程に配備された検査機が検査に使用した基板の画像を、比較しながら確認する検査方法を提供する。【解決手段】 部品実装基板の製造ラインにおいて、工程毎に検査機1を配備するとともに、各検査機1をネットワーク回線7を介してサーバー2に接続する。各検査機1では、検査を実行する毎に、検査結果情報をサーバー2に送信するとともに、検査に使用した画像データをメモリに保存する。サーバー2は、いずれかの検査機1から不良判定情報を含む検査結果情報を受信すると、その情報から不良判定のなされた検査領域を特定し、各検査機1に、その検査領域にかかる情報の送信を要求する。各検査機1は、この送信要求に応じて、前記メモリから該当する検査領域の画像を抽出し、サーバー2に送信する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

部品実装基板を製造するために一連に実行される複数の工程の少なくとも2箇所にそれぞれ検査機を配備して、その工程実行後の基板の画像を用いた検査を実行するようにした方法であって、 各検査機と通信可能な情報処理装置を設置し、各検査機において、前記検査の結果を基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信するステップaと、前記検査に用いた画像データを前記基板の識別情報に対応づけてメモリに保存するステップbとを実行するとともに、前記情報処理装置から所定の基板の識別情報を含む送信要求を受信したとき、その識別情報に対応し、前記送信要求に応じた画像データを前記メモリから読み出して、情報処理装置に送信するステップcを実行し、 前記情報処理装置は、各検査機からの検査結果情報のいずれかが不良判定を示すものであったとき、この検査結果情報に対応する識別情報を含む送信要求を作成して各検査機に送信するステップAと、前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを相互に対応づけてメモリに保存するステップBとを、実行することを特徴とする部品実装基板用の検査方法。

IPC (1件)：

H05K13/08

FI (1件)：

H05K13/08 Q

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特許3441111号 公報
  
• 検査装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-082724   出願人：オムロン株式会社

審査官引用 (1件)

• 検査装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-082724   出願人：オムロン株式会社