特許

J-GLOBAL ID：200903095730509886

ディスプレイパネル用検査装置

発明者： 蔭山 哲也
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-084978
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294580
出願日： 1994年04月22日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：

【要約】【構成】 ディスプレイパネルの入力端子に接触する導電性の探針部1を有し、この探針部1を介して検査信号を入力するプローバブロック2を複数設ける。ユニットベース9上で、上記各プローバブロック2を、個別にディスプレイパネルの入力端子への接触方向に移動自在に支持する。上記ユニットベース9とプローバブロック2との間で、上記各プローバブロック2を、個別にディスプレイパネルの入力端子への接触方向に付勢する。【効果】 探針部1とディスプレイパネルの入力端子との接触状態を良好にし、検査精度の向上を図ることができる。

請求項（抜粋）：

ディスプレイパネルの入力端子に接触する導電性の接触部材を有し、この接触部材を介して検査信号を入力し、ディスプレイパネルの電気的特性を検査するディスプレイパネル用検査装置において、上記接触部材に電気的に接続され、ディスプレイパネルに検査信号を供給する検査信号供給手段と、上記接触部材を所定出力端子毎に分割して形成される複数の分割体と、上記各分割体を、個別にディスプレイパネルの入力端子への接触方向に移動自在に支持する支持手段と、上記各分割体を、個別にディスプレイパネルの入力端子への接触方向に付勢する付勢手段とが備えられていることを特徴とするディスプレイパネル用検査装置。

IPC (4件)：

G01R 31/00 ,  G01R 1/073 ,  G02F 1/13 101 ,  G09G 5/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-218472
  
• 特開平3-273168
  
• 表示パネル用プローバ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-108750   出願人：株式会社日本マイクロニクス