特許
J-GLOBAL ID：200903095974502891

画質検出装置、画像形成装置、画質制御装置及び画質制御方法

発明者：
平井 秀二

平井 秀二 について

, 
塚本 武雄

塚本 武雄 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 武 顕次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-211502
公開番号（公開出願番号）：特開2004-053944
出願日： 2002年07月19日
公開日（公表日）： 2004年02月19日
要約：
【課題】画質劣化の要因である粒状性の劣化を検出することができる画質検出装置を提供する。【解決手段】像担持体150上に形成された所定の画像パターン151に基づいて画質を検出する画質検出装置において、画像パターン151およびパターン画像が形成されている像担持体150に対してスポット光SPを照射するLED101及びレンズ102と、前記画像パターン151を前記スポット光SPにより走査させる走査手段と、走査手段による走査過程で画像パターン151および像担持体150を介して反射もしくは透過する光量を検知する光電変換素子103とを備え、照射面におけるスポット光SPの単位面積当たりのパワーが最大値の1/eに低下する光ビームの両側の点の間の距離で定義されるビーム径の少なくとも走査方向における径寸法を、空間周波数が最大となる値の逆数、例えば前記径寸法が1000μm以下として画質を検出するようにした。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
像担持体上に形成された所定の画像パターンに基づいて画質を検出する画質検出装置において、 前記画像パターンおよび前記パターン画像が形成されている前記像担持体に対してスポット光を照射する発光手段と、 前記画像パターンを前記スポット光により走査させる走査手段と、 前記走査手段による走査過程で前記画像パターンおよび前記像担持体を介して反射もしくは透過する光量を検知する受光手段と、 を備え、 前記スポット光の走査方向における径寸法が、人間の視覚感度が最大となる空間周波数の逆数以下に設定されていることを特徴とする画質検出装置。
IPC (5件)：
G03G15/00 ,  B41J2/52 ,  B41J29/46 ,  H04N1/00 ,  H04N1/29
FI (6件)：
G03G15/00 303 ,  B41J29/46 C ,  H04N1/00 104Z ,  H04N1/00 106C ,  H04N1/29 H ,  B41J3/00 A
Fターム (43件)：
2C061AP07 ,  2C061AQ06 ,  2C061KK13 ,  2C061KK18 ,  2C061KK25 ,  2C262BB06 ,  2C262BB10 ,  2C262FA12 ,  2C262GA02 ,  2C262GA03 ,  2C262GA47 ,  2H027DA10 ,  2H027DE02 ,  2H027DE07 ,  2H027DE10 ,  2H027EA02 ,  2H027EA04 ,  2H027EB04 ,  2H027EC04 ,  2H027EC06 ,  2H027EC14 ,  2H027ED06 ,  2H027EF07 ,  2H027HA07 ,  2H027HB04 ,  2H027HB13 ,  2H027ZA07 ,  5C062AA05 ,  5C062AB22 ,  5C062AB33 ,  5C062AB41 ,  5C062AC04 ,  5C062AC58 ,  5C062AC61 ,  5C062AE03 ,  5C074AA02 ,  5C074BB03 ,  5C074BB04 ,  5C074CC26 ,  5C074DD06 ,  5C074EE11 ,  5C074FF08 ,  5C074HH02
引用特許：
審査官引用 (13件)
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