特許
J-GLOBAL ID：200903095979538932
試料のX線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-298115
公開番号（公開出願番号）：特開2002-107312
出願日： 2000年09月29日
公開日（公表日）： 2002年04月10日
要約：
【要約】【課題】 試料内の含有物をX線干渉計により、容易に、かつ非破壊的に探査することができる、試料のX線干渉計による非破壊的探査方法及びその装置を提供する。【解決手段】 モノクロメーターAMからの単色2次元ビーム2が、試料11を通過した透過X線映像dと、X線干渉計がつくり出す参照波による位相情報を蓄積した干渉画像b,cと、前記試料を通過した平面波X線が前記試料11を通過直後に形成する画像のうち、ミラーM2により分光作用を受けて、前記ミラーを通過した一部のX線による屈折画像とを一枚の記録媒体12に得て、前記画像に含まれる試料11中の化石の含有物の内部情報を決定する。
請求項（抜粋）：
試料のX線干渉計による非破壊的探査方法において、X線干渉計と組み合わされるモノクロメーターからの単色ビームが試料を通過した透過X線画像と、前記X線干渉計がつくり出す参照波による位相情報を蓄積した干渉画像と、前記試料を通過した平面波X線が前記試料を通過直後に形成する画像のうち、ミラーにより分光作用を受けて、前記ミラーを通過した一部のX線による屈折画像と、を記録媒体に得て、前記画像に含まれる、試料中の含有物の内部情報を決定することを特徴とする試料のX線干渉計による非破壊的探査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001AA10
, 2G001BA04
, 2G001BA11
, 2G001BA28
, 2G001BA30
, 2G001CA01
, 2G001DA06
, 2G001DA09
, 2G001EA07
, 2G001EA08
, 2G001EA09
, 2G001EA20
, 2G001FA06
, 2G001HA15
, 2G001LA01
, 2G001LA03
