特許
J-GLOBAL ID:200903096024108301

スプリットゲートとソース側注入を用いたEEPROM

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大島 陽一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-530947
公開番号(公開出願番号):特表平11-504768
出願日: 1997年01月29日
公開日(公表日): 1999年04月27日
要約:
【要約】セクタとして形成されたメモリアレイを備えた半導体EPRONセル(101)であって、各セクタは、単一の列、若しくはその制御ゲート(108)が共通に接続された列の群として形成されている。
請求項(抜粋):
メモリ構造であって、 第1の導電型のソース領域と、 前記第1の導電型のドレイン領域と、 前記ソース領域に隣接して配置された、前記第1の導電型とは相異なる第2の導電型の第1のチャネル領域と、 前記トレイン領域に隣接して配置された、前記第1の導電型とは相異なる前記第2の導電型第2のチャネル領域と、 前記第1のチャネル領域と前記第2のチャネル領域との間に配置された、前記第2の導電型の伝達チャネル領域と、 前記第1のチャネル領域の上に配置された第1のフローティングゲートと、 前記第2のチャネル領域の上に配置された第2のフローティングゲートと、 前記第1のフローティングゲートに対応するステアリング素子として働く、前記第1のフローティングゲートの上に配置された第1のコントロールゲートと、 前記第2のフローティングゲートに対応するステアリング素子として働く、前記第2のフローティングゲートの上に配置された第2のコントロールゲートと、 アクセストランジスタのコントロールゲートとして働く、前記伝達チャネル領域の上に配置されかつ前記第1のコントロールゲート及び前記第2のコントロールゲートの少なくとも一部の上に配置された第3のコントロールゲートと、 前記第1のフローティングゲートと前記第3のコントロールゲートとの間に形成された、前記第1のフローティングゲートのエッジ、側壁、上部エッジの隅部、上部の一部、及び底部の一部のうちの1つ若しくは複数を含む第1のトンネルゾーン、 前記第2のフローティングゲートと、前記第3のコントロールゲートとの間に形成された、前記第2のフローティングゲートのエッジ、側壁、上部エッジの隅部、上部の一部、及び底部の一部のうちの1つ若しくは複数を含む第2のトンネルゾーンとを有することを特徴とするメモリ構造。
IPC (6件):
H01L 27/115 ,  G11C 16/02 ,  G11C 16/04 ,  H01L 21/8247 ,  H01L 29/788 ,  H01L 29/792
FI (5件):
H01L 27/10 434 ,  H01L 29/78 371 ,  G11C 17/00 641 ,  G11C 17/00 621 A ,  G11C 17/00 611 A
引用特許:
審査官引用 (4件)
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