特許
J-GLOBAL ID:200903096075442389
窒化物セラミックス回路基板の製造方法。
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-151543
公開番号(公開出願番号):特開2007-324301
出願日: 2006年05月31日
公開日(公表日): 2007年12月13日
要約:
【課題】絶縁性が良好で、且つ生産性に優れた窒化物セラミックス回路基板の製造方法を提供すること。【解決手段】窒化物セラミックス基板にレーザーでスクライブルラインを入れ基板を分割し回路基板を製造する方法において、窒化物セラミックス基板に不連続なレーザー孔より構成されるスクライブルラインを入れた後、活性金属ろう付け法にて金属板と接合し、エッチング法にて回路を形成することを特徴とする窒化物セラミックス回路基板の製造方法であり、エッチングによって回路を形成した後、金属板除去部分に残存するろう材、その合金層、窒化物層等を除去することを特徴とする窒化物セラミックス回路基板の製造方法である。【選択図】図2
請求項(抜粋):
窒化物セラミックス基板にレーザーでスクライブルラインを入れ基板を分割し回路基板を製造する方法において、窒化物セラミックス基板に不連続なレーザー孔より構成されるスクライブルラインを入れた後、活性金属ろう付け法にて金属板と接合し、エッチング法にて回路を形成することを特徴とする窒化物セラミックス回路基板の製造方法。
IPC (6件):
H05K 3/00
, H05K 1/03
, H05K 1/02
, H05K 3/06
, B23K 26/38
, B23K 26/00
FI (6件):
H05K3/00 N
, H05K1/03 610D
, H05K1/02 G
, H05K3/06 A
, B23K26/38 330
, B23K26/00 D
Fターム (12件):
4E068AD00
, 4E068AE01
, 4E068DA14
, 4E068DB12
, 5E338AA18
, 5E338BB31
, 5E338EE11
, 5E338EE60
, 5E339AB06
, 5E339BC01
, 5E339BD06
, 5E339BE11
引用特許:
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