試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：原謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-218791
公開番号（公開出願番号）：特開平7-073468
出願日： 1993年09月02日
公開日（公表日）： 1995年03月17日
要約：

【要約】【構成】光ビームaにより情報が記録される光磁気ディスク24から繰り返しマークパターンyに対応する再生信号wの部分のレベルと、孤立マークパターンxに対応する再生信号wの部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録条件を設定する試し書き記録制御方法および、これを採用した試し書き記録制御装置。【効果】繰り返しマークパターンyに対応する再生信号wの部分のレベルと、孤立マークパターンxに対応する再生信号wの部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、正確に熱干渉の違いを知ることができる。このため、異なるマークパターンに対応した記録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。これにより、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定することが可能となる。

請求項（抜粋）：

光ビームにより情報が記録される光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを比較することにより、記録条件を設定することを特徴とする試し書き記録制御方法。

IPC (3件)：

G11B 7/00 , G11B 11/10 551 , G11B 11/10 586

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平4-010220
特開平3-034127
特開平3-102679

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