特許

J-GLOBAL ID：200903096312647039

プローブ針及びその使用方法並びにプローブ針の製造方法

発明者： 岡田 洋一 ,  原田 秀則 ,  石村 宏和
出願人/特許権者： 東京特殊電線株式会社
代理人 (1件)： 吉村 俊一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-280883
公開番号（公開出願番号）：特開2006-098066
出願日： 2004年09月28日
公開日（公表日）： 2006年04月13日
要約：

【課題】 小さな電極を備えた被測定体であっても、4端子抵抗測定法により被測定体の電気的特性を正確に測定できるプローブ針を提供すること。【解決手段】 先端部6を被測定体の電極に接触させて、当該被測定体の電気的特性を測定するプローブ針1であって、金属導体2と当該金属導体に設けられた絶縁被膜3とを有し、前記金属導体の断面形状が平角形状であるプローブ針を用い、このプローブ針を2本一対としてプローブユニット100のガイド板21における一つのガイド穴27に挿入し、これら一対のプローブ針の先端部6を被測定体の一つの電極に同時に接触させる4端子抵抗測定法で前記被測定体の電気的特性を測定するものである。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

先端部を被測定体の電極に接触させて当該被測定体の電気的特性を測定するプローブ針であって、金属導体と当該金属導体に設けられた絶縁被膜とを有し、前記金属導体の断面形状が平角形状であることを特徴とするプローブ針。

IPC (2件)：

G01R 1/073 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G01R1/073 A ,  G01R31/28 K

Fターム (7件)：

2G011AA02 ,  2G011AA13 ,  2G011AC06 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01 ,  2G132AF02 ,  2G132AL03

引用特許：

出願人引用 (1件)

• プローブカード及びプローブピン
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-166178   出願人：片川浩