特許

J-GLOBAL ID：200903096406635824

半田付け検査装置

発明者： 北山 綱次 ,  渡辺 恵一 ,  荒川 智広 ,  足立 裕
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所 ,  トヨタ車体株式会社
代理人 (1件)： 守田 賢一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-265515
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090191
出願日： 1996年09月13日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：

【要約】【課題】 広い範囲の半田付け不良を同一装置で検査する。【解決手段】 半田付けされる電極を含むプリント基板2上の所定領域を照明装置5で照明し、撮像装置8で上記所定領域の画像を得る。データ処理装置6は撮影画像を取り込んで、この画像内に電極を中心とした検査領域を設定し、当該検査領域内で高輝度の連続領域の外周を追跡する。そして、追跡軌跡の長さより、「半田ブリッジ」、「半田欠け」、「半田無し」、「半田過少」等の半田付け不良を検出する。

請求項（抜粋）：

半田付けされる電極(91)を含むプリント基板(2)上の所定領域を照明する照明手段(5)と、照明された前記所定領域の画像を得る撮像手段(8)と、前記画像内に前記電極(91)を中心とした検査領域(L)を設定して、当該検査領域(L)内で所定の輝度を有する連続領域の外周を追跡することにより前記プリント基板(2)上の半田付け状態を判定する判定手段(6)とを具備する半田付け検査装置。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  H05K 3/34 512

FI (4件)：

G01N 21/88 F ,  G01B 11/24 C ,  H05K 3/34 512 B ,  G06F 15/62 405 A

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 半田付状態検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-008732   出願人：株式会社シム