特許
J-GLOBAL ID：200903096562667981

テラヘルツ画像処理システム及び方法

発明者：
ジョン フェデリーチ

ジョン フェデリーチ について

, 
ロバート バラ

ロバート バラ について

, 
デイル イー ゲイリー

デイル イー ゲイリー について


出願人/特許権者：
ニュージャージー インスティチュート オブ テクノロジー

ニュージャージー インスティチュート オブ テクノロジー について


代理人 (2件)： 大西 正悟 ,  山口 修之
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-509358
公開番号（公開出願番号）：特表2006-508333
出願日： 2003年05月29日
公開日（公表日）： 2006年03月09日
要約：
特定な成分の存在を判定するために、関心領域を急速に、そして効果的に検査するための、THz画像処理装置及び方法を提供する。この装置は、試験に適した所望のテラヘルツ周波数の電磁放射を発生させるための手段、そして関心領域に入射する放射をレンダリングするための手段を含む。領域から反射する、あるいは領域を透過するテラヘルツ放射を検出するために、関心領域から間隔を置いた平面内の複数の点に検出器手段を設ける。そして、特定な成分の存在が確定可能なよう、検出テラヘルツ放射を関心領域の画像へ変換するための手段を設ける。
請求項（抜粋）：
特定な成分の存在を判定するために、関心領域を検査するための装置であって、 (a)前記検査に適した、所望のテラヘルツ周波数の電磁放射を発生させるための手段、 (b)前記関心領域に入射する前記テラヘルツ放射をレンダリングするための手段、 (c)前記関心領域から間隔を置いた検出器平面内の複数の点において、前記領域から反射した、あるいは前記領域を透過したテラヘルツ放射を同時に検出するための検出器手段、そして (d)前記特定な成分の存在を確定可能なよう、前記検出テラヘルツ放射を前記関心領域の画像へ変換するための手段からなる、テラヘルツ画像処理装置。
IPC (2件)：
G01V 3/12 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01V3/12 A ,  G06T1/00 300
Fターム (23件)：
2G005DA02 ,  2G005DA04 ,  5B057AA16 ,  5B057AA19 ,  5B057BA01 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE08 ,  5B057CE11 ,  5B057CG09 ,  5B057DA02 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC19 ,  5B057DC31
引用特許：
審査官引用 (2件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM