特許
J-GLOBAL ID:200903096839218861

整合インピーダンステストのためのテスト用器具

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石田 敬 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-339408
公開番号(公開出願番号):特開2000-241451
出願日: 1999年11月30日
公開日(公表日): 2000年09月08日
要約:
【要約】【課題】 プリント回路基板にある高周波数の場所におけるテストで、テスタにテスト信号を伝送するため、整合インピーダンス回路トレースを有する上端プレートを含むテスト用器具である。【解決手段】 プリント回路基板の整合インピーダンステスト用器具(14)は、前記プリント回路基板を支持する上端プレート(26)を有し、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上にあるテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレース(36)を有し、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するスプリングプローブが、上端プレートにある穴(33)を通して延びる。前記回路トレースに取り付けられた同軸コネクタ(42)が前記上端プレートに配線され、TDRメータ(46)が前記テスト信号を読む。
請求項(抜粋):
プリント回路基板の整合インピーダンステストのためのテスト用器具であって、整合インピーダンステストを必要とする前記プリント回路基板上のテスト位置から延びる整合インピーダンス回路トレースを有し前記プリント回路基板を支持するための上端プレートを含む多数の取付けプレートと、前記上端プレートの穴を通して延び、前記プリント回路基板上のテスト位置から前記整合インピーダンス回路トレースにテスト信号を伝送するテストプローブと、前記テスト用器具に接続されたテスト信号解析手段と、を有するテスト用器具。
IPC (3件):
G01R 1/073 ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28
FI (3件):
G01R 1/073 D ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28 K
引用特許:
出願人引用 (3件)
  • 特開平3-048179
  • 特開昭63-304180
  • 垂直作動型プローブカード
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-294908   出願人:日本電子材料株式会社, 株式会社東芝, 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社
審査官引用 (5件)
  • 特開平3-048179
  • 特開平3-048179
  • 特開昭63-304180
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