特許
J-GLOBAL ID:200903096863092763

テラヘルツ放射により物質の状態の変化を監視するためのシステムおよび方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 浅村 皓 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-548921
公開番号(公開出願番号):特表2003-518617
出願日: 2000年12月28日
公開日(公表日): 2003年06月10日
要約:
【要約】液体から固体へまたは固体から液体へ変化する場合に、変化を起こす物質を検出し、監視するために、テラヘルツ放射を使用するためシステムおよび方法。パルス・モードまたは連続波(CW)モードのテラヘルツ放射を使用することにより、上記システムは、物質の内部に入り込まないでこれらの変化を監視することができる。上記システムは、半固体状または固体状の物質と比較した場合、液状の物質はテラヘルツ放射をより大きく吸収し、減衰させるという原理を使用する。大部分のテラヘルツ放射の吸収は、分子の回転運動、すなわち、分子結合を中心にしての全分子または原子のグループの回転により起こる。
請求項(抜粋):
検査中のサンプルが相の変化を起こしているかどうかを判断するためのシステムであって、 レーザ光を発生するためのレーザ光源と、 前記レーザ光を、前記サンプルを通して送られるテラヘルツ電磁放射に変換する、光学的に駆動されるテラヘルツ送信機と、 前記サンプルを通して送信された前記テラヘルツ電磁放射を受信するための、前記テラヘルツ送信機に対向して位置する光学的に駆動されるテラヘルツ受信機と、 前記サンプルが相の変化を起こしているかどうかを判断するために、前記光学的に駆動されるテラヘルツ送信機が送信した前記テラヘルツ電磁放射を、光学的に駆動されるテラヘルツ受信機が受信した前記テラヘルツ電磁放射と比較するための分析装置と、 を備えるシステム。
IPC (2件):
G01N 21/35 ,  H01S 3/00
FI (2件):
G01N 21/35 Z ,  H01S 3/00 F
Fターム (23件):
2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059EE01 ,  2G059EE09 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM08 ,  2G059PP04 ,  5F072AB13 ,  5F072AB20 ,  5F072JJ07 ,  5F072JJ20 ,  5F072MM07 ,  5F072MM20 ,  5F072SS08 ,  5F072SS10 ,  5F072YY20
引用特許:
審査官引用 (1件)
引用文献:
審査官引用 (4件)
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